Fachbibliothek Mathematik und Physik

Apparat Angewandte Physik

 

     
Harth: Halbleitertechnologie G 80
     
Reimer: Transmission electron microscopy Fph 293/1997
     
Reimer: Scanning electron microscopy Fph 32/1999
     
Wutz: Theorie und Praxis der Vakuumtechnik AB 2823
     
Born: Principles of optics AB 2227
     
Cowley: Diffraction physics AB 2665
     
Müller: Bauelemente der Halbleiter-Elektronik AB 2826
     
Müller: Grundlagen der Halbleiter-Elektronik AB 2825
     
Angerer: Wissenschaftliche Photographie G 76
     
Joos: Grundriss der Photographie und ihrer Anwendungen AB 176
     
Brümmer: Handbuch Festkörperanalyse mit Elektronen, Ionen und BL 3657
  Röntgenstrahlen  
     
Czanderna: Methods of surface analysis AB 2026
     
Glaser: Grundlagen der Elektronenoptik AB 329
     
Menzel: Fourier-Optik und Holographie BL 2827
     
Grasserbauer: Angewandte Oberflächenanalyse AB 2860
     
Ertl: Low energy electrons and surface AB 2839
     
Sevier: Low energy electron spectrometry AB 1365
     
Watt: Principles and applications of high-energy ion microbeams AB 2889
     
Wolf: Silicon processing for the VLSI era AB 2982
     
Egerton: Electron energy-loss spectrosopy in the eclectron Fph 125/1997
  microscope  
     
Woodruff: Modern techniques of surface science AB 2929
     
Williams: Introduction to x-ray spectrometry AB 2906
     
Johansson: A novel technique for elemental analysis Fph 107/1989
     
Hütte: Die Grundlagen der Ingenieurwissenschaften G 907
     
Franz: Kalte Plasmen: Grundlagen, . . . AB 2948
     
Bergmann: Der Ultraschall BL 1128
     
Hecht: Optik AB 2608
     
Hamann: Raster-Tunnelmikroskopie AB 2611
     
Israelachvili: Intermolecular and surface forces AB 2925
     
Sze: Physics of semiconductor devices AB 2984
     
Miller: Atom probe micoanalysis AB 3019
     
Eichmeier: Handbuch der Vakuumelektronik AB 3022
     
Schmidt: Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrober. AB 3082
  analyse  
     
Fuchs: Particle beam microanalysis AB 3010
     
Reed: Electron microprobe analysis AB 3111
     
Smith: Submicron- and nanometer-structures technology AB 3119
     
Wollnik: Optics of charged particle physics AB 3159
     
Chapman: Glow discharge processes HB 1142
     
Scott: Quantitative electron-probe microanalysis AB 3160
     
Williams: Transmission electron microscopy Fph 477/1997
     
Reimer: Rasterelektronenmikroskopie AB 2234
     
Giancoli: Physik Ge 162/2006
     
Widmann: Technologie hochintegrierter Schaltungen AB 3164