Fachbibliothek Mathematik und Physik

Apparat Angewandte Physik

 

Harth: Halbleitertechnologie G 80
Reimer: Transmission electron microscopy Fph 293/1997
Reimer: Scanning electron microscopy Fph 32/1999
Wutz: Theorie und Praxis der Vakuumtechnik AB 2823
Born: Principles of optics AB 2227
Cowley: Diffraction physics AB 2665
Müller: Bauelemente der Halbleiter-Elektronik AB 2826
Müller: Grundlagen der Halbleiter-Elektronik AB 2825
Angerer: Wissenschaftliche Photographie G 76
Joos: Grundriss der Photographie und ihrer Anwendungen AB 176
Brümmer: Handbuch Festkörperanalyse mit Elektronen, Ionen und BL 3657
Röntgenstrahlen
Czanderna: Methods of surface analysis AB 2026
Glaser: Grundlagen der Elektronenoptik AB 329
Menzel: Fourier-Optik und Holographie BL 2827
Grasserbauer: Angewandte Oberflächenanalyse AB 2860
Ertl: Low energy electrons and surface AB 2839
Sevier: Low energy electron spectrometry AB 1365
Watt: Principles and applications of high-energy ion microbeams AB 2889
Wolf: Silicon processing for the VLSI era AB 2982
Egerton: Electron energy-loss spectrosopy in the eclectron Fph 125/1997
microscope
Woodruff: Modern techniques of surface science AB 2929
Williams: Introduction to x-ray spectrometry AB 2906
Johansson: A novel technique for elemental analysis Fph 107/1989
Hütte: Die Grundlagen der Ingenieurwissenschaften G 907
Franz: Kalte Plasmen: Grundlagen, . . . AB 2948
Bergmann: Der Ultraschall BL 1128
Hecht: Optik AB 2608
Hamann: Raster-Tunnelmikroskopie AB 2611
Israelachvili: Intermolecular and surface forces AB 2925
Sze: Physics of semiconductor devices AB 2984
Miller: Atom probe micoanalysis AB 3019
Eichmeier: Handbuch der Vakuumelektronik AB 3022
Schmidt: Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrober. AB 3082
analyse
Fuchs: Particle beam microanalysis AB 3010
Reed: Electron microprobe analysis AB 3111
Smith: Submicron- and nanometer-structures technology AB 3119
Wollnik: Optics of charged particle physics AB 3159
Chapman: Glow discharge processes HB 1142
Scott: Quantitative electron-probe microanalysis AB 3160
Williams: Transmission electron microscopy Fph 477/1997
Reimer: Rasterelektronenmikroskopie AB 2234
Giancoli: Physik Ge 162/2006
Widmann: Technologie hochintegrierter Schaltungen AB 3164