Mit der 1-lambda Reflektometrie ist es möglich, markierungsfrei und mit einfachsten Mitteln - einer Lichtquelle mit einer Wellenlänge und einer Photodiode - auf unterschiedlichsten Trägermaterialien wie z.B. Kunststoff, Glas oder speziell beschichteten Trägern kontinuierliche Messungen von Bindungs- oder Quellvorgängen an der Trägeroberfläche vorzunehmen. Bedingt durch Vielfachreflexionen an den Grenzflächen existiert für jedes verwendete Trägersystem eine optimale Wellenlänge, bei der die Reflektivitätsänderung, hervorgerufen durch eine Dickenänderung der sensitiven Schicht, maximal wird. Die Qualität der erhaltenen Messungen ist absolut vergleichbar mit der Reflektometrischen Interferenzspektroskopie (RIfS).
