Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät

Materialforschung und Nanotechnologie im Netzwerk Elektronenmikroskopie Tübingen (NET)

Schwerpunktthemen

Ansprechpartner

Elektronen-, Ionenoptik, Geräte C. Burkhardt, B. Schröppel
FIB-Präparation, Nanoindenting C. Burkhardt, W. Dreher, K. Nickel, B. Schröppel
Analytische Elektronenmikroskopie W. Dreher, J. Meyer
Hochauflösende Elektronenmikroskopie, sub-eV Sub-Angström Mikroskopie W. Dreher, J. Meyer
Industrierelevante Elektronenmikroskopie Materialwissenschaften W. Dreher, K. Nickel
Rasterelektronenmikroskopie/EPMA A. Kappler, K. Nickel, H. Schulz, T. Wenzel