Center for Light-Matter Interaction, Sensors & Analytics (LISA+)

Dünnfilm- und Oberflächenanalyse

In der Dünnfilm- und Oberflächenanalyse bietet LISA+ verschiedene Möglichkeiten zur Oberflächenabbildung, Schichtdickenkontrolle, sowie der Bestimmung der Topographie. Zudem können dünne Schichten auf ihre Zusammensetzung, Element-Verteilung sowie chemische Bindungen hin analysiert werden. Darüber hinaus steht uns Equipment zur elektrischen Charakterisierung zur Verfügung.

Zu unseren abbildenden Methoden gehören die

Die Topographie- und Schichtdickenmessung erfolgt mittels

Für die Elementanalyse kann von uns im wesentlichen durchgeführt werden mittels

Die Struktur- und Phasenanalyse erfolgt haupsächlich über

Um eine elektrische Charaktiersierung durchzuführen bietet LISA+ diverses Equipment zur elektrischen Kontaktierung:

Datenschutzeinstellungen

Auf unserer Webseite werden Cookies verwendet. Einige davon werden zwingend benötigt, während es uns andere ermöglichen, Ihre Nutzererfahrung auf unserer Webseite zu verbessern. Ihre getroffenen Einstellungen können jederzeit bearbeitet werden.

oder

Essentiell

in2code

Videos

in2code
YouTube
Google